X射线/CT扫描植物根系分析系统—RootViz FS

 

植物根系X射线-CT扫描成像分析系统是将软组织X射线技术商业化,成功研发的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X射线照片,并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。本套系统现研究开发了Q型和R型培养容器根系成像的模型算法,Q型容器培养的植物成像时间3-4min/盆,R型容器培养的植物成像时间4-5min/盆,每天可成像100多盆。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应,最大可对株高2.0m,根系深达1.0 m的植株进行分析,获得详细的根部结构数据。

目前,平台已完成了对玉米和小麦的预实验,下一步将会对水稻,大豆,棉花,西红柿等作物根系表型实验。平台可服务内容涉及根系生长发育的动态监测,不同品种间根系的差异、根系系统分类、根系对胁迫响应等领域。

image.png

测量参数

?总根长和总投影面积;

?  可获取5种以上不同等级根系分布图片以及不同等级根系的根长和投影面积;

?  不同深度根系分布的位置;

?  不同深度根系的直径;

? 不同深度根系分布的密度

 

服务内容 各种植物苗期至成熟期的栽培管理、X-射线根系表型成像及数据分析与整理。

服务周期 根据每个实验的具体情况(提供的材料和实验方案设计等)而定,数天至数月不等。

服务特点 您可以提供实验材料及处理方法,我们就能给您提供扫描成像原图、分析图与数据。

应用案例

image.png
image.png
image.png

   中文/En
XML 地图 | Sitemap 地图